Оборудование для производства и тестирования полупроводников и СБИС

Перед тем как поступить в массовое производство каждая интегральная схема (микроконтроллер, процессор, ЦАП/АЦП, модуль памяти, интерфейсный чип, элемент силовой схемы) проходит сложную и многостадийную процедуру тестирования. Цель этой стадии разработки и производства — выявить все возможные отклонения от штатной работы, проверить чип в наиболее сложных условиях, и в итоге, получить исключительно надежное и работоспособное устройство. Предлагаемое нами оборудование позволяет упростить, ускорить и автоматизировать эту экстремально сложную и трудоемкую работу.

Мы нацелены на удовлетворение самого широкого спектра требований таких рыночных сегментов, как беспроводные технологии, вычислительные, автомобильные и развлекательные системы. Разработчики и производители полупроводниковых устройств по всему миру используют наше оборудование для диагностики чипов на таких стадиях производственного процесса, как испытания схем на полупроводниковой пластине и финальная диагностика интегральной схемы в сборе.

После входного контроля и диагностики чипы встраиваются в различные продукты, как промышленного, так и бытового назначения, в том числе: компьютеры, оборудование мобильной связи (точки беспроводного доступа и интерфейсы), продукты широкополосного доступа (кабельные модемы, DSL-модемы), продукты личной связи (мобильные телефоны, смартфоны и планшетные устройства), бытовую технику (телевизоры, видеомагнитофоны, игровые системы, цифровые камеры, устройства навигации, автомобильная электроника), а также портативные модули и блоки питания.

Мы являемся деловым партнёром в России компании COHU (США), www.cohu.com — мирового лидера в области диагностики и исследования полупроводников.

Диагностическая система Diamondx

cледующее поколение диагностических платформ для заказных интегральных микросхем и микроконтроллеров

Платформа ASL

новое поколение экономичных аналоговых диагностических систем

Технология бесшовного объединения тестеров

архитектура бесшовного объединения тестеров (IMA)
Закрыть меню